- SOC芯片中高速ADC的测试方法
- 1
- 《电子测试》北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 刘炜 张琳 石志刚 出版年：2007
- 关键词：片上系统 模数转换器
- 基于多site测试的安全芯片加密数据实时下载
- 2
- 《微处理机》北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 侯政嘉 张琳 刘炜 吉国凡 出版年：2009
- 关键词：信息安全芯片 测试图形 公钥密码 生产测试 多site
- 基于IP核的SOC中ADC的测试技术
- 3
- 《中国集成电路》北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 刘炜 张琳 出版年：2008
- 关键词：SOC 模数转换器 IP核
- 基于Multi-Site并行测试的效率分析与研究
- 4
- 《微处理机》北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 金兰 刘炜 吉国凡 出版年：2011
- 关键词：Multi-site并行测试 测试效率 探针卡 晶圆 管芯
- IC工程测试和生产测试
- 5
- 第五届中国测试学术会议 2008时万春 吉国凡 陈大为 刘鸿琴 刘学森 孙加兴 出版年：2008
- 面向集成电路测试的测试数据转换方法
- 6
- [发明专利] 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 20070806刘炜 郑忠林 吉国凡 张琳 王慧 金兰 孙博 石志刚 赵智昊 陈希 孙杨 出版年：2010
- 用于自动测试设备的有效性校准方法
- 7
- [发明专利] 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 20081212张琳 吉国凡 石志刚 刘炜 王慧 金兰 宋奕霖 出版年：2010
- 一种对FPGA器件进行测试的方法
- 8
- [发明专利] 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 20070930吉国凡 张琳 刘炜 赵智昊 王慧 石志刚 孙博 金兰 李尔 孙杨 陈希 出版年：2009
- 集成电路并行测试适配器
- 9
- [实用新型] 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 20050923肖钢 王峥 赵伟 柳炯 刘炜 出版年：2007
- 一种自动下载集成电路序列号码的方法
- 10
- [发明专利] 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 20070930刘炜 肖钢 吉国凡 张琳 柳炯 赵伟 王慧 石志刚 孙博 金兰 赵智昊 李尔 孙杨 出版年：2009
