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期刊文章详细信息

SOC芯片中高速ADC的测试方法    

  

文献类型:期刊文章

作  者:刘炜[1] 张琳[1] 石志刚[1]

机构地区:[1]北京华大泰思特半导体检测技术有限公司

出  处:《电子测试》

年  份:2007

卷  号:18

期  号:10

起止页码:48-50

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:本文简单描述了SOC芯片测试技术,模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块,随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今SOC芯片中的ADC测试研究重点。本文重点介绍了一款SOC芯片中高速ADC测试的方法。

关 键 词:片上系统 模数转换器

分 类 号:TN47] TN792

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引证文献:

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同被引文献:

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