期刊文章详细信息
SOC芯片中高速ADC的测试方法
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
年 份：2007
卷 号：18
期 号：10
起止页码：48-50
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：本文简单描述了SOC芯片测试技术,模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块,随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今SOC芯片中的ADC测试研究重点。本文重点介绍了一款SOC芯片中高速ADC测试的方法。
关 键 词：片上系统 模数转换器
分 类 号：TN47] TN792
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