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专利详细信息

一种自动下载集成电路序列号码的方法       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN200710175583.1

申 请 日:20070930

发 明 人:刘炜 肖钢 吉国凡 张琳 柳炯 赵伟 王慧 石志刚 孙博 金兰 赵智昊 李尔 孙杨

申 请 人:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司

申请人地址:100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层

公 开 日:20090211

公 开 号:CN101364529A

代 理 人:陈曦

代理机构:11100 北京北新智诚知识产权代理有限公司

语  种:中文

摘  要:本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法,包括如下的步骤:(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息;(2)按照预定的编码方式,将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序列号码;(3)将集成电路序列号码下载到集成电路芯片内部存储器中的指定区域;(4)检查下载的集成电路序列号码的准确性和唯一性。利用本方法,可以在同一个操作流程中完成芯片测试和序列号码下载,减少了操作环节,节省了芯片的测试时间。

主 权 项:1.一种自动下载集成电路序列号码的方法,其特征在于包括如下的步骤:(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息;(2)按照预定的编码方式,将所述与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序列号码;(3)将所述集成电路序列号码下载到集成电路芯片内部存储器中的指定区域;(4)检查下载的所述集成电路序列号码的准确性和唯一性。

关 键 词:序列号码  集成电路 下载 集成电路芯片 芯片 内部存储器 编码方式  测试过程  测试时间  芯片测试 信息转换  唯一性  采集  环节  检查  

IPC专利分类号:H01L21/00(20060101);H01L21/82(20060101);H01L21/66(20060101);G06K5/02(20060101);G01R31/28(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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