专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN200710175585.0
申 请 日:20070930
申 请 人:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
申请人地址:100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层
公 开 日:20090211
公 开 号:CN101363900A
代 理 人:陈曦
代理机构:11100 北京北新智诚知识产权代理有限公司
语 种:中文
摘 要:本发明公开了一种对FPGA器件进行测试的方法,包括如下的步骤:(1)生成为FPGA器件配置预定功能的配置文件;(2)使FPGA器件进入配置阶段;(3)从配置文件中提取配置信息并进行数据转换,得到预定管脚的配置数据信号;(4)设置FPGA器件各控制管脚的逻辑状态,并设置各管脚的时序信息,得到配置过程的测试向量;(5)根据各个管脚的时序信息设置各个管脚信号变化的时间,得出测试图形;(6)执行测试图形,完成测试工作。利用本发明,可以使用现有的集成电路测试机完成对FPGA器件的测试,不仅减少了操作环节,而且提高FPGA器件的测试效率,便于实现FPGA器件的产业化测试。
主 权 项:1.一种对FPGA器件进行测试的方法,基于集成电路测试机实现,其特征在于包括如下的步骤:(1)使用FPGA器件设计工具生成为FPGA器件配置预定功能的配置文件;(2)所述集成电路测试机使所述FPGA器件进入配置阶段;(3)从所述配置文件中提取配置信息并进行数据转换,得到预定管脚的配置数据信号;(4)设置所述FPGA器件各控制管脚的逻辑状态,并设置各管脚的时序信息,得到配置过程的测试向量;(5)根据各个管脚的时序信息设置各个管脚信号变化的时间,得出测试图形;(6)所述集成电路测试机执行所述测试图形,完成对所述FPGA器件是否实现预定功能的测试工作。
关 键 词:管脚 测试图形 配置文件 时序信息 对FPGA器件进行测试 集成电路测试 测试工作 测试向量 测试效率 逻辑状态 配置过程 配置数据 配置信息 器件配置 数据转换 信号变化 环节
IPC专利分类号:G01R31/317(20060101);G01R31/3177(20060101);G01R31/3183(20060101)
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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