期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
年 份:2008
卷 号:17
期 号:4
起止页码:79-82
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:本文简单描述了SOC芯片测试技术的复杂性,模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块,随着器件时钟频率的不断提高,高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今SOC芯片中的ADC测试研究重点。本文重点介绍了一款SOC芯片中高速ADC测试的方法。
关 键 词:SOC 模数转换器 IP核
分 类 号:TN792] TP332]
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