期刊文章详细信息
基于IP核的SOC中ADC的测试技术
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
年 份：2008
卷 号：17
期 号：4
起止页码：79-82
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：本文简单描述了SOC芯片测试技术的复杂性,模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块,随着器件时钟频率的不断提高,高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今SOC芯片中的ADC测试研究重点。本文重点介绍了一款SOC芯片中高速ADC测试的方法。
关 键 词：SOC 模数转换器 IP核
分 类 号：TN792] TP332]
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