文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN200810239569.8

申 请 日：20081212

发 明 人：张琳 吉国凡 石志刚 刘炜 王慧 金兰 宋奕霖

申 请 人：北京华大泰思特半导体检测技术有限公司

申请人地址：100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层

公 开 日：20100623

公 开 号：CN101750597A

代 理 人：陈曦

代理机构：11100 北京北新智诚知识产权代理有限公司

语　　种：中文

摘　　要：本发明公开了一种用于自动测试设备的有效性校准方法，包括如下步骤：(1)启动自动测试设备，执行自检程序；(2)自检完毕之后，由外部测量设备连接测试用适配板的测量点，开始校准工作；(3)执行通道特性参数测量；(4)执行管脚参数测量单元测量；(5)执行板参数测量单元测量；(6)执行器件电源测量。本有效性校准方法可以实现自动测试设备的自动化整体原位校准，从而确保自动测试设备的测试质量和有效使用，并保证所有校准的指标和参数能够溯源到国家标准。

主 权 项：1.一种用于自动测试设备的有效性校准方法，其特征在于包括如下步骤：(1)启动自动测试设备，执行自检程序；(2)自检完毕之后，由外部测量设备连接测试用适配板的测量点，开始校准工作；(3)执行通道特性参数测量；(4)执行管脚参数测量单元测量；(5)执行板参数测量单元测量；(6)执行电源测量。

关 键 词：自动测试设备 校准 参数测量单元  自检  外部测量设备  参数测量 测试质量  器件电源  通道特性  有效使用  原位校准  管脚 适配  溯源  连接  

IPC专利分类号：G01R35/00(20060101)