登录    注册    忘记密码

专利详细信息

用于自动测试设备的有效性校准方法       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN200810239569.8

申 请 日:20081212

发 明 人:张琳 吉国凡 石志刚 刘炜 王慧 金兰 宋奕霖

申 请 人:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司

申请人地址:100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层

公 开 日:20100623

公 开 号:CN101750597A

代 理 人:陈曦

代理机构:11100 北京北新智诚知识产权代理有限公司

语  种:中文

摘  要:本发明公开了一种用于自动测试设备的有效性校准方法,包括如下步骤:(1)启动自动测试设备,执行自检程序;(2)自检完毕之后,由外部测量设备连接测试用适配板的测量点,开始校准工作;(3)执行通道特性参数测量;(4)执行管脚参数测量单元测量;(5)执行板参数测量单元测量;(6)执行器件电源测量。本有效性校准方法可以实现自动测试设备的自动化整体原位校准,从而确保自动测试设备的测试质量和有效使用,并保证所有校准的指标和参数能够溯源到国家标准。

主 权 项:1.一种用于自动测试设备的有效性校准方法,其特征在于包括如下步骤:(1)启动自动测试设备,执行自检程序;(2)自检完毕之后,由外部测量设备连接测试用适配板的测量点,开始校准工作;(3)执行通道特性参数测量;(4)执行管脚参数测量单元测量;(5)执行板参数测量单元测量;(6)执行电源测量。

关 键 词:自动测试设备 校准 参数测量单元  自检  外部测量设备  参数测量 测试质量  器件电源  通道特性  有效使用  原位校准  管脚 适配  溯源  连接  

IPC专利分类号:G01R35/00(20060101)

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心