专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN200810239569.8
申 请 日:20081212
申 请 人:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
申请人地址:100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层
公 开 日:20100623
公 开 号:CN101750597A
代 理 人:陈曦
代理机构:11100 北京北新智诚知识产权代理有限公司
语 种:中文
摘 要:本发明公开了一种用于自动测试设备的有效性校准方法,包括如下步骤:(1)启动自动测试设备,执行自检程序;(2)自检完毕之后,由外部测量设备连接测试用适配板的测量点,开始校准工作;(3)执行通道特性参数测量;(4)执行管脚参数测量单元测量;(5)执行板参数测量单元测量;(6)执行器件电源测量。本有效性校准方法可以实现自动测试设备的自动化整体原位校准,从而确保自动测试设备的测试质量和有效使用,并保证所有校准的指标和参数能够溯源到国家标准。
主 权 项:1.一种用于自动测试设备的有效性校准方法,其特征在于包括如下步骤:(1)启动自动测试设备,执行自检程序;(2)自检完毕之后,由外部测量设备连接测试用适配板的测量点,开始校准工作;(3)执行通道特性参数测量;(4)执行管脚参数测量单元测量;(5)执行板参数测量单元测量;(6)执行电源测量。
关 键 词:自动测试设备 校准 参数测量单元 自检 外部测量设备 参数测量 测试质量 器件电源 通道特性 有效使用 原位校准 管脚 适配 溯源 连接
IPC专利分类号:G01R35/00(20060101)
参考文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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