文献类型：期刊文章

作　　者：侯政嘉[1] 张琳[1] 刘炜[1] 吉国凡[1]

机构地区：[1]北京华大泰思特半导体检测技术有限公司,北京100088

出　　处：《微处理机》

基　　金：2008年北京市优秀人才培养资助(D类)项目(20081d1100500335)

年　　份：2009

卷　　号：30

期　　号：6

起止页码：8-10

语　　种：中文

收录情况：ZGKJHX、普通刊

摘　　要：首先概述了信息安全芯片的结构、特点及在生产测试中的难点。在生产过程中,自动下载密码时,信息安全芯片可以根据密码算法的具体情况,采用不同的方法生成测试图形。并重点介绍了在生产测试中实时生成信息安全芯片的测试图形的一种方法。该方法从生成特定的安全算法密码到对芯片进行密码写入都是自动的、连续的、实时的。并利用多site进行生产测试,提高测试效率,节约测试成本。通过在泰瑞达J750测试平台上对一款信息安全芯片的量产测试,证明该方法是可行的,高效的。

关 键 词：信息安全芯片  测试图形  公钥密码 生产测试  多site  

分 类 号：TN4]