北京自动测试技术研究所 
研究主题：测试系统 集成电路 测试向量 集成电路测试系统 ATE
研究学科：电子信息类 自动化类 电气类 经济学类
- 数字接收机中CIC滤波器的设计
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- 《电子测量与仪器学报》北京自动测试技术研究所 姜岩峰 张东 于明 出版年：2011
- 关键词：积分梳状滤波器 MATLAB VERILOG HDL
- 基于自动测试系统的ADC测试开发 ( EI收录)
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- 《仪器仪表学报》北京大学深圳研究生院;北京大学微电子学系;北京自动测试技术研究所 张建强 冯建华 冯建科 出版年：2007
- 关键词：模拟数字转换器 参数 计算机辅助测试
- 基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试
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- 《微电子学》北京大学微电子学系SOC测试中心;北京自动测试技术研究所 唐恒标 冯建华 冯建科 出版年：2006
- 关键词：FPGA测试 可编程逻辑 测试方法 测试系统
- RFID中天线的优化设计
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- 《电子测量与仪器学报》北京自动测试技术研究所 张东 姜岩峰 生晓坤 出版年：2011
- 关键词：自动控制 片上天线 电磁仿真 优化设计
- 基于带隙基准源电路的噪声分析
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- 《电子测量与仪器学报》北京自动测试技术研究所 张东 姜岩峰 于明 出版年：2011
- 关键词：噪声 带隙基准电路 版图
- 基于ATE的MCU芯片并行测试技术研究
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- 《电子测量技术》北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室;北方工业大学 刘媛媛 高剑 蒋常斌 出版年：2020
- 关键词：微控制单元 并行测试 继电器矩阵
- FLASH存储器的测试方法
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- 《电子测量技术》北京自动测试技术研究所 高剑 郭士瑞 蒋常斌 出版年：2008
- 关键词：存储器测试 FLASH 测试图形
- 三极管放大倍数的脉冲测试
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- 《国外电子测量技术》北京自动测试技术研究所 郝新雷 刘海微 吴雷 出版年：2013
- 关键词：硬件闭环 放大倍数 脉冲 三极管
- ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现
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- 《电子测试》北京自动测试技术研究所 蒋常斌 生晓坤 李杰 宋泽明 出版年：2013
- 关键词：ATE ARM CORTEX-M3 IC测试 BC3192
- 基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究
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- 《电子测量技术》北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 韩东 郭士瑞 高剑 李杰 出版年：2017
- 关键词：自动测试系统 二进制文件 测试数据标准化
