期刊文章详细信息
ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现
Research and Implement of Testing Method for ARM Cortex-M3 Based Microprocessors
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京自动测试技术研究所,北京100088
年 份：2013
卷 号：24
期 号：4S
起止页码：8-9
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
关 键 词：ATE ARM CORTEX-M3 IC测试 BC3192
分 类 号：TN407]
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