期刊文章详细信息
FLASH存储器的测试方法
Test methods of FLASH memory
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京自动测试技术研究所,北京100088
年 份：2008
卷 号：31
期 号：7
起止页码：117-120
语 种：中文
收录情况：JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要：随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高。本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析、研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合。测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高。
关 键 词：存储器测试 FLASH 测试图形
分 类 号：TN431.2]
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