文献类型：期刊文章

作　　者：张东[1] 姜岩峰[1] 生晓坤[1]

机构地区：[1]北京自动测试技术研究所,北京100088

出　　处：《电子测量与仪器学报》

基　　金：北京市科学技术研究院科技创新工程(编号:PXM2011-178102-113436)资助项目

年　　份：2011

卷　　号：25

期　　号：7

起止页码：626-629

语　　种：中文

收录情况：CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：RFID(射频识别)芯片可在某些自动控制系统中用于信号的接收与检测,其中天线的集成设计关系到整个系统的体积及性能,因此,天线的集成化设计成为RFID技术研究的一个重点。本文首先用集总参数模型对片上天线进行建模,并采用标准CMOS工艺设计天线,而且用IE3D电磁仿真工具对其进行仿真,验证了片上天线的可行性及实用性,最后讨论了片上天线的优化设计和改进工艺对天线性能的有效提高。

关 键 词：自动控制 片上天线 电磁仿真 优化设计

分 类 号：TN402]