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北京自动测试技术研究所 收藏

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研究主题:测试系统    集成电路    测试向量    集成电路测试系统    ATE    

研究学科:电子信息类    自动化类    电气类    经济学类    

被引量:228H指数:8EI: 4 北大核心: 7 CSCD: 18

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