文献类型：期刊文章

作　　者：韩东[1] 郭士瑞[1] 高剑[1] 李杰[1]

Han Dong Guo Shirui Gao Jian Li Jie(Beijing Key Laboratory of Integrated Circuit Testing Technology, Beijing Institute of Automatic Test Technology, Beijing 100088, China)

机构地区：[1]北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室,北京100088

出　　处：《电子测量技术》

基　　金：北京市自然科学基金委员会-北京市科学技术研究院联合资助项目(L150009)

年　　份：2017

卷　　号：40

期　　号：6

起止页码：47-52

语　　种：中文

收录情况：JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境.设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换,通过对比转换生成的文本和标准ATD文本.验证了程序转换结果的正确性,最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50,从而实现测试数据标准化。测试实验结果表明,该算法能够高效的实现双向转换,规范了测试数据的结构.提升了测试数据的可分析性。

关 键 词：自动测试系统 二进制文件 测试数据标准化  

分 类 号：TN302]