文献类型：期刊文章

作　　者：唐恒标[1] 冯建华[1] 冯建科[2]

机构地区：[1]北京大学微电子学系SOC测试中心,北京100871 [2]北京自动测试技术研究所,北京100088

出　　处：《微电子学》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(90207018;60576030)

年　　份：2006

卷　　号：36

期　　号：3

起止页码：292-295

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：FPGA在许多领域已经得到广泛应用,其测试问题也显得越来越突出。文章针对基于SRAM结构FPGA的特点,以Xilinx公司的XC4000系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在BC3192V50测试系统上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试。它是一种基于测试系统的通用的FPGA配置和测试方法。

关 键 词：FPGA测试 可编程逻辑 测试方法  测试系统

分 类 号：TP391.76]