文献类型：期刊文章

作　　者：刘媛媛[1,2] 高剑[1] 蒋常斌[1]

Liu Yuanyuan;Gao Jian;Jiang Changbin(Beijing Institute of Automatic Test Technology,Beijing Key Laboratory of Integrated Circuit Testing Technology,Beijing 100088,China;North China University of Technology,Beijing 100144,China)

机构地区：[1]北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室,北京100088 [2]北方工业大学,北京100144

出　　处：《电子测量技术》

年　　份：2020

卷　　号：43

期　　号：4

起止页码：116-120

语　　种：中文

收录情况：JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：讨论了MCU芯片测试需求及难点,针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案。以FPGA为主控器件设计继电器矩阵控制电路,并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求。解决了测试系统接口板的单一性、专用性问题,缩短了开发周期。通过自动测试系统验证,MCU芯片并行测试实验中功能匹配测试、频率测试和参数测试可独立使用测试资源,实现了完全并行测试,与传统串行测试方法相比节约了测试时间,提高了芯片测试效率。

关 键 词：微控制单元  并行测试 继电器矩阵  

分 类 号：TN407]