期刊文章详细信息
三极管放大倍数的脉冲测试
Pulse of transistor magnification
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京自动测试技术研究所,北京100088
年 份：2013
卷 号：32
期 号：10
起止页码：34-37
语 种：中文
收录情况：JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要：阐述了三极管的参数及3种工作状态,并深入研究温度对三极管相关参数的影响。为了降低温度和环路间寄生振荡对测试系统的影响,能更加准确测量三极管的放大倍数.通过硬件闭环电路的设计,实现了300μs内三极管放大倍数的测试。采用电路的布局和硬件相位补偿,减少多级放大器与被测器件共同构成的闭环回路而产生的电路振荡,从而提高了hFE测试的真实性和精准度。
关 键 词：硬件闭环 放大倍数 脉冲 三极管
分 类 号：TN9]
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