华南理工大学电子与信息学院微电子研究所 
研究主题：MODELSIM MATLAB 仿真平台 前端设计 运算放大器
研究学科：电子信息类 自动化类 航空航天类
- 基于FPGA的三速SDI设计
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- 《电视技术》华南理工大学电子与信息学院微电子研究所 黄隶凡 郑学仁 出版年：2011
- 关键词：FPGA 三速SDI SERDES
- 化学机械抛光对铜互连器件的影响及失效分析
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- 《微电子学》华南理工大学电子与信息学院微电子研究所;电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室 林晓玲 刘建 章晓文 侯通贤 姚若河 出版年：2011
- 关键词：化学机械抛光 CU互连 工艺缺陷 金属残留
- PMOSFET动态NBTI效应的研究
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- 《半导体技术》华南理工大学电子与信息学院微电子研究所;工业和信息化部电子第五研究所 宋芳芳 解江 李斌 章晓文 出版年：2010
- 关键词：PMOS 动态NBTI 可靠性 恢复效应
- 半导体器件功率老化的结温控制方法研究
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- 《实验技术与管理》华南理工大学电子与信息学院微电子研究所;电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室 冯永杰 李斌 黄云 出版年：2010
- 关键词：半导体器件 功率老化 结温控制
- 一种图像缩放的简化双线性插值电路
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- 《微电子学与计算机》华南理工大学电子与信息学院微电子研究所 廖汝鹏 蔡泽锋 闾晓晨 郑学仁 出版年：2009
- 关键词：双线性插值 定标器 图像缩放
- 基于LSSVM的威布尔分布形状参数估计
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- 《半导体技术》华南理工大学电子与信息学院微电子研究所 邹心遥 姚若河 出版年：2008
- 关键词：可靠性评估 威布尔参数估计 最小二乘支持向量机 最小二乘回归
- 通孔微结构对Cu/低-k应力诱生空洞的影响 ( EI收录)
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- 《华南理工大学学报（自然科学版）》华南理工大学电子与信息学院微电子研究所;工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室 林晓玲 侯通贤 章晓文 姚若河 出版年：2011
- 关键词：Cu/低-k互连 应力诱生空洞 工艺波动 通孔微结构
- 运算放大器失效原因分析
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- 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会 2011林晓玲 章晓文 出版年：2011
- 关键词：运算放大器 失效机理 性能测试 电路设计
- 运算放大器失效原因分析
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- 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会 2011 出版年：2011
- 关键词：运算放大器 失效原因 失效分析
- 铜—低k集成技术的失效模式及失效分析
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- 中国电子学会第十四届青年学术年会 2008林晓玲 章晓文 出版年：2008
- 关键词：集成电路 引线互连 器件失效 失效分析
