文献类型：期刊文章

作　　者：邹心遥[1] 姚若河[1]

机构地区：[1]华南理工大学电子与信息学院微电子研究所,广州510640

出　　处：《半导体技术》

年　　份：2008

卷　　号：33

期　　号：6

起止页码：501-505

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：固态介质击穿寿命特性通常用威布尔分布来描述,形状参数β反应了固态介质的失效特征,因而需要精确估计β值。提出了在小样本情况下基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的参数评估方法,并给出了LSSVM在MOS电容与时间有关的击穿寿命分布评估中的应用实例,并与常规的最小二乘评估方法相比,得到的结果表明LSSVM的评估精度更高(均方误差更小)、鲁棒性更好,在小样本情况下能更精确地确定威布尔分布的形状参数。

关 键 词：可靠性评估 威布尔参数估计  最小二乘支持向量机 最小二乘回归  

分 类 号：TN206.1] TN360