文献类型：会议

作者单位：电子元器件可靠性物理及应用技术重点实验室工信部电子五所广东广州510610华南理工大学电子与信息学院微电子研究所广州510640电子元器件可靠性物理及应用技术重点实验室工信部电子五所广东广州510610

会议文献：2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会论文集

会议名称：2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会

会议日期：2011年11月1日

会议地点：苏州

主办单位：中国电子学会,广东省电子学会,广东省仪器仪表学会

语　　种：中文

摘　　要：某单运算放大器在应用过程中发现输出电流过大、运放功能失效。本文对该运放进行失效分析，通过端口IV特性测试、开封内目检分析,并结合器件内部电路原理分析，确定了该运放功能失效的模式及原因。为减少及预防同类失效的再次发生提供了依据。结果表明，外来浪涌电压导致互补推挽输出级电路中，正电源方向输出管Q46的CB结和CE结表面击穿，使其过流保护管Q46-P产生过大电流烧毁，AL金属布线烧毁熔融、AL颗粒溅射，导致功能失效。

关 键 词：运算放大器 失效原因  失效分析  

分 类 号：V21[航空航天类] ] TP2