文献类型：会议

作　　者：林晓玲 章晓文

作者单位：电子元器件可靠性物理及应用技术重点实验室 工信部电子五所 广东 广州 510610 华南理工大学 电子与信息学院微电子研究所 广州 510640 电子元器件可靠性物理及应用技术重点实验室 工信部电子五所 广东 广州 510610

会议文献：2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会论文集

会议名称：2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会

会议日期：20111101

会议地点：苏州

主办单位：中国电子学会;广东省电子学会;广东省仪器仪表学会

出版日期：20111101

语　　种：中文

摘　　要：某单运算放大器在应用过程中发现输出电流过大、运放功能失效。本文对该运放进行失效分析，通过端口Ⅳ特性测试、开封内目检分析,并结合器件内部电路原理分析，确定了该运放功能失效的模式及原因。为减少及预防同类失效的再次发生提供了依据。结果表明，外来浪涌电压导致互补推挽输出级电路中，正电源方向输出管Q46的CB结和CE结表面击穿，使其过流保护管Q46-P产生过大电流烧毁，Al金属布线烧毁熔融、Al颗粒溅射，导致功能失效。

关 键 词：运算放大器 失效机理  性能测试  电路设计

分 类 号：TN722.77]