西安电子科技大学微电子学院微电子研究所 
研究主题：集成电路 CMOS 碳化硅 MOSFET 可靠性
研究学科：电子信息类 自动化类 电气类 机械类 经济学类
被引量：1,742H指数：15WOS: 144 EI: 273 北大核心: 393 CSSCI: 3 CSCD: 403
- 国外微电子组装用导电胶的研究进展
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- 《电子元件与材料》西安电子科技大学微电子研究所 陈党辉 顾瑛 陈曦 出版年：2002
- 关键词：微电子 组装 导电胶 导电机理 可靠性 接触电阻
- 一种高性能CMOS带隙电压基准源设计 ( EI收录)
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- 《Journal of Semiconductors》西安电子科技大学微电子研究所 朱樟明 杨银堂 刘帘曦 朱磊 出版年：2004
- 关键词：CMOS 带隙电压基准源 二次分压 温度补偿
- 基于透射谱的GaN薄膜厚度测量 ( EI收录)
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- 《物理学报》西安电子科技大学微电子研究所 张进城 郝跃 李培咸 范隆 冯倩 出版年：2004
- 关键词：透射谱 氮化镓薄膜 厚度测量 干涉效应 折射率 半导体材料
- 高亮度GaN基蓝光与白光LED的研究和进展
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- 《量子电子学报》西安电子科技大学微电子研究所 刘坚斌 李培咸 郝跃 出版年：2005
- 关键词：光电子学 半导体材料 GaN:蓝光LED:白光LED
- LIGA相关技术及应用
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- 《传感器技术》上海交通大学微纳米科学技术研究院;西安电子科技大学微电子研究所 张永华 丁桂甫 彭军 蔡炳初 出版年：2003
- 关键词：三维微细加工 LIGA技术 准LIGA技术
- 多芯片组件热分析技术研究
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- 《微电子学与计算机》西安电子科技大学微电子研究所 杨桂杰 杨银堂 李跃进 出版年：2003
- 关键词：单片集成电路 多芯片组件 热分析技术 可靠性
- 一种10-ppm/~oC低压CMOS带隙电压基准源设计
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- 《电路与系统学报》西安电子科技大学微电子研究所 朱樟明 杨银堂 出版年：2004
- 关键词：CMOS 带隙电压基准源 低压 温度系数 电源抑制比
- 基于虚拟仪器的电子器件低频噪声测试分析系统 ( EI收录)
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- 《仪器仪表学报》西安电子科技大学微电子研究所 包军林 庄奕琪 杜磊 李伟华 出版年：2004
- 关键词：低频噪声 虚拟仪器 可靠性筛选
- 一种DC-DC开关电源片上软启动电路 ( EI收录)
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- 《Journal of Semiconductors》西安电子科技大学电路CAD研究所;西安电子科技大学微电子研究所 李演明 来新泉 袁冰 叶强 贾新章 出版年：2008
- 关键词：软启动 DC-DC开关电源 浪涌电流 过冲
- 元器件质量与可靠性数据统计分布规律的拟合 ( EI收录)
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- 《西安电子科技大学学报》西安电子科技大学微电子研究所 龚自立 贾新章 白永亮 出版年：2001
- 关键词：可靠性 统计分布 电子元器件
