期刊文章详细信息
元器件质量与可靠性数据统计分布规律的拟合 ( EI收录)
The distribution fitting for the testing data of electronic parts
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]西安电子科技大学微电子研究所,陕西西安710071
年 份：2001
卷 号：28
期 号：3
起止页码：336-339
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：在元器件质量和可靠性分析中 ,往往要确定试验和测试数据的统计分布规律 .针对元器件质量和可靠性问题的数据特点 ,采用非线性最小二乘法拟合方法 ,并开发了相应的计算机程序 ,用于自动确定数据的统计分布规律 ,对实际生产线采集的数据进行分析处理 ,其精度明显优于传统方法 .
关 键 词：可靠性 统计分布 电子元器件
分 类 号：TN301]
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