国家半导体器件质量监督检验中心 
研究主题：可靠性 发光二极管 加速寿命试验 LED 平均寿命
研究学科：电子信息类 电气类 机械类 航空航天类 建筑类
- 高亮发光二极管寿命评价
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- 《半导体技术》石家庄铁道学院;国家半导体器件质量监督检验中心 闫德立 高金环 高兆丰 徐立生 出版年：2009
- 关键词：发光二极管 光通量 退化系数 加速寿命 平均寿命
- 多层陶瓷电容器应用与可靠性研究
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- 《环境技术》中国电子科技集团公司第十三研究所;国家半导体器件质量监督检验中心 彭浩 席善斌 裴选 高兆丰 黄杰 出版年：2016
- 关键词：多层陶瓷电容器 制造工艺 失效分析 微观机理
- 功率LED使用寿命评价
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- 《半导体技术》国家半导体器件质量监督检验中心 高金环 彭浩 武红玉 刘东月 高兆丰 黄杰 徐立生 出版年：2009
- 关键词：功率发光二极管 加速寿命试验 加速系数 激活能 使用寿命
- 高可靠领域中应用塑封器件的有效评价
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- 《半导体技术》国家半导体器件质量监督检验中心 李巍 宋玉玺 童亮 出版年：2014
- 关键词：塑封器件(PEM) 高可靠性 失效模式 评价 方案
- 国产半导体器件长期贮存试验研究
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- 《半导体技术》国家半导体器件质量监督检验中心 高兆丰 童亮 高金环 徐立生 出版年：2010
- 关键词：长期贮存 可靠性 失效率 可焊性 水汽含量
- 堆叠结构BGA焊接可靠性评价方法
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- 《半导体技术》中国电子科技集团公司第十三研究所;国家半导体器件质量监督检验中心;中国电子科技集团公司第五十八研究所 冉红雷 韦婷 张魁 黄杰 柳华光 赵海龙 尹丽晶 出版年：2021
- 关键词：球栅阵列封装(BGA) 焊接可靠性 菊花链 动态监测 应变和应力
- 军用标准PIND试验方法发展与对比分析
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- 《半导体技术》中国电子科技集团公司第十三研究所;国家半导体器件质量监督检验中心 席善斌 高金环 裴选 尹丽晶 高东阳 彭浩 出版年：2019
- 关键词：粒子碰撞噪声检测(PIND) 筛选试验 可动粒子 振动频率 军用标准
- 三维封装微系统TSV转接板技术研究
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- 《电子产品可靠性与环境试验》国家半导体器件质量监督检验中心;中电科技集团电子可靠性工程技术有限公司 冉红雷 彭浩 黄杰 盛晓杰 出版年：2019
- 关键词：硅通孔 串扰耦合 电磁仿真 传输特性
- 照明用功率LED的加速寿命试验
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- 《半导体光电》国家半导体器件质量监督检验中心 高兆丰 曹耀龙 高金环 黄杰 徐立生 出版年：2009
- 关键词：功率发光二极管 加速寿命试验 加速系数 激活能 使用寿命
- 大功率LED稳态热阻测试的关键因素
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- 《半导体技术》国家半导体器件质量监督检验中心 彭浩 武红玉 刘东月 张瑞霞 徐立生 出版年：2009
- 关键词：发光二极管 导热性 热阻测试 芯片和封装 重复性
