文献类型：期刊文章

作　　者：高金环[1] 彭浩[1] 武红玉[1] 刘东月[1] 高兆丰[1] 黄杰[1] 徐立生[1]

机构地区：[1]国家半导体器件质量监督检验中心,石家庄050051

出　　处：《半导体技术》

年　　份：2009

卷　　号：34

期　　号：5

起止页码：452-454

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：概述了照明用功率LED的发展历程,遵循LED的退化规律和退化系数与结温间满足阿列尼斯方程的关系,提出了一种实用的温度应力加速寿命试验对功率LED寿命进行评价的试验方法,并利用上述方法对CREE公司生产的功率型红光LED的寿命进行评价,采用图估法和数值分析两种方法进行数据处理,获得了其工作结温不高于80℃的使用寿命,对功率LED可靠性研究具有一定的意义。

关 键 词：功率发光二极管 加速寿命试验 加速系数  激活能 使用寿命

分 类 号：TN312.8]