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中国航天北京微电子技术研究所 收藏

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研究主题:电路    单粒子    单粒子翻转    集成电路    芯片    

研究学科:电子信息类    自动化类    航空航天类    电气类    经济学类    

被引量:693H指数:11WOS: 16 EI: 29 北大核心: 162 CSCD: 138

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1,785 条 记 录,以下是 1-10

纳米级CMOS集成电路的单粒子效应及其加固技术 ( EI收录)
1
《电子学报》北京微电子技术研究所 赵元富 王亮 岳素格 孙永姝 王丹 刘琳 刘家齐 王汉宁  出版年:2018
国家自然科学基金(No.61674015;No.11690045)
空间应用的集成电路受到辐射效应的影响,会出现瞬态干扰、数据翻转、性能退化、功能失效甚至彻底毁坏等问题.随着器件特征尺寸进入到100nm以下(以下简称纳米级),这些问题的多样性和复杂性进一步增加,单粒子效应成为集成电路在空...
关键词:集成电路 纳米级 单粒子效应 抗辐射加固
纳米器件空间辐射效应机理和模拟试验技术研究进展 ( EI收录)
2
《科学通报》西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室;中国科学院近代物理研究所;西安电子科技大学微电子学院;中国原子能研究院抗辐照应用技术创新中心;北京微电子技术研究所;清华大学工程物理系 陈伟 刘杰 马晓华 郭刚 赵元富 郭晓强 罗尹虹 姚志斌 丁李利 王晨辉 陈荣梅 何宝平 赵雯 张凤祁 马武英 翟鹏飞 王祖军 刘天奇 郭红霞 刘建德 杨海亮 胡培培 丛培天 李宗臻  出版年:2018
国家自然科学基金(11690040;11690043)资助
电子器件空间辐射效应是影响航天器在轨长期可靠运行的重要因素之一,一直是国际上抗辐射加固技术领域研究的热点和难点.高可靠、高集成度、高性能、低功耗、低成本是未来新一代先进电子系统发展的必然要求,采用更高性能的抗辐射加固纳米...
关键词:纳米器件  空间辐射效应  抗辐射加固 模拟试验  
基于层次化验证平台的存储器控制器功能验证
3
《微电子学与计算机》北京微电子技术研究所 吴英攀 于立新 薛可 庄伟  出版年:2009
文中描述了一种基于层次化的验证平台存储器控制器功能验证方法.根据VMM(Verification Methodology Manual)验证方法学构建的一个层次性的验证平台,它易于维护并且具有很好的灵活性和可重用性.文中...
关键词:VMM 分类树 验证  存储器控制器
电子器件真实温度和发射率分布的红外测量 ( EI收录)
4
《红外技术》清华大学工程力学系;北京微电子技术研究所 朱德忠 顾毓沁 晋宏师 郝军 李红松  出版年:2000
用红外热成像系统直接获得的热像图,是被测器件表面辐射温度的分布,并不是真实温度的分布。现介绍一套电子器件热辐射特性测试分析系统,可以方便地测定物体表面的真实温度分布与发射率分布。通过对一系列电子器件的测试,所获得的结果说...
关键词:红外热成像 电子器件 真实温度  发射率 红外测量  
结合断言与覆盖率为导向的验证方法
5
《微电子学与计算机》北京微电子技术研究所 褚晓滨 陆铁军 宗宇  出版年:2008
伴随着半导体工艺的不断发展,可以将更多的功能集成到单系统芯片上.这对传统的验证方法和验证途径提出了种种挑战.以覆盖率为导向的验证方法中,覆盖率模型是在外部通过DUT执行的功能来统计覆盖率,很难侦测到DUT内部的工作状态,...
关键词:覆盖率  断言 验证方法  海量存储
航天元器件自主与可控概念及量化研究
6
《电子元件与材料》中国空间技术研究院;中国运载火箭技术研究院;中国航天电子技术研究院;北京微电子技术研究所;中国航天科技集团公司 夏泓 李京苑 李应选 姚全斌 李念滨  出版年:2013
提出了航天元器件自主与可控的概念及量化方法,指出在讨论航天元器件时,一般所说的"自主可控",应理解为"自主"与"可控"两个词,二者内涵有一定的交集,但是概念不同。自主注重元器件产品及形成该产品全过程的全部要素不受制于外国...
关键词:航天 元器件 自主  可控  量化  全因素  
CMOS图像传感器的硬复位电路研究 ( EI收录)
7
《电子学报》北京微电子技术研究所 晋孝峰 岳素格 刘丽艳 陈淼 赵岳 王春芳  出版年:2014
像素复位电路是CMOS图像传感器的重要组成部分,其特性直接影响着图像的质量.本文对CMOSAPS图像传感器的动态范围、抗饱和能力、图像滞后以及非线性等性能进行了分析,并讨论了通过复位电路改善CMOS图像传感器性能的方法....
关键词:CMOS图像传感器 硬复位电路  动态范围 抗饱和 图像滞后  非线性
用于ADC测试的数据采集系统的设计
8
《电子测量技术》北京微电子技术研究所 张丛丛 谭博  出版年:2016
介绍了一种可用于百兆级采样率模数转换器(ADC)测试的数据采集系统,给出其硬件设计原理与方法,并简要介绍了上位机软件工作流程。该系统主要用于进行8位或16位100 MHz采样率ADC的动态参数的测试,采用FPGA+USB...
关键词:动态参数 FPGA SRAM FIFO 数据采集 USB
硅片减薄技术研究
9
《电子与封装》北京微电子技术研究所 木瑞强 刘军 曹玉生  出版年:2010
集成电路芯片不断向高密度、高性能和轻薄短小方向发展,为满足IC封装要求,越来越多的薄芯片将会出现在封装中。此外薄芯片可以提高器件在散热、机械等方面的性能,降低功率器件的电阻。因此,硅片减薄的地位越来越重要。文章简要介绍了...
关键词:硅片 背面减薄  研磨
IBIS建模和PCB信号完整性分析
10
《微电子学与计算机》北京微电子技术研究所 周博远 于立新 褚军舰  出版年:2010
随着数字系统中时钟频率的提高,PCB上的信号完整性也日益成为设计过程中不可忽略的问题.文中通过阐述IBIS模型的建立和PCB板上信号完整性的分析,介绍了一种必要的基于IBIS模型建立的信号完整性仿真及分析方法,例举了时钟...
关键词:PCB 信号完整性 行为级模型 IBIS建模  
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