期刊文章详细信息
电子器件真实温度和发射率分布的红外测量 ( EI收录)
Measurement of True Temperature and Emissivity Distribution of Electronic Devices with Infrared Thermal Imaging System
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]清华大学工程力学系,北京100084 [2]北京微电子技术研究所,北京100076
年 份：2000
卷 号：22
期 号：1
起止页码：45-48
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI(收录号：2000045124919)、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：用红外热成像系统直接获得的热像图，是被测器件表面辐射温度的分布，并不是真实温度的分布。现介绍一套电子器件热辐射特性测试分析系统，可以方便地测定物体表面的真实温度分布与发射率分布。通过对一系列电子器件的测试，所获得的结果说明该系统是行之有效的，有着很广泛的用途。
关 键 词：红外热成像 电子器件 真实温度 发射率 红外测量
分 类 号：TN606]
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