文献类型：期刊文章

作　　者：张丛丛[1] 谭博[1]

Zhang Congcong Tan Bo(Beijing Microelectronics Technology Institute, Beijing 100076, China)

机构地区：[1]北京微电子技术研究所,北京100076

出　　处：《电子测量技术》

年　　份：2016

卷　　号：39

期　　号：10

起止页码：162-165

语　　种：中文

收录情况：JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：介绍了一种可用于百兆级采样率模数转换器(ADC)测试的数据采集系统,给出其硬件设计原理与方法,并简要介绍了上位机软件工作流程。该系统主要用于进行8位或16位100 MHz采样率ADC的动态参数的测试,采用FPGA+USB的形式。其中,FPGA负责对采集的数据进行缓存和传输,然后通过USB将数据上传到上位机中,最后利用上位机软件的控制算法实现对待测ADC参数的计算与显示,从而得出电路的测试结果。该系统性目前已用于日常电路测试,并取得了良好的效果。

关 键 词：动态参数 FPGA SRAM FIFO 数据采集 USB

分 类 号：TN792]