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期刊文章详细信息

CMOS图像传感器的硬复位电路研究  ( EI收录)  

Research on CMOS Image Sensor Hard Reset Circuit

  

文献类型:期刊文章

作  者:晋孝峰[1] 岳素格[1] 刘丽艳[1] 陈淼[1] 赵岳[1] 王春芳[1]

机构地区:[1]北京微电子技术研究所,北京100076

出  处:《电子学报》

年  份:2014

卷  号:42

期  号:1

起止页码:182-186

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2011、CAS、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号:20141017430890)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:像素复位电路是CMOS图像传感器的重要组成部分,其特性直接影响着图像的质量.本文对CMOSAPS图像传感器的动态范围、抗饱和能力、图像滞后以及非线性等性能进行了分析,并讨论了通过复位电路改善CMOS图像传感器性能的方法.在本文中,设计了两种带有抗饱和电路的硬复位电路,一种是采用传统的交叉耦合结构实现电压转换,另一种是基于改进的锁存器结构并增加阈值补偿管来实现,两种方案各具特点,分别适用不同的应用要求.仿真结果表明,两种电路方案均能够使动态范围提高2—3dB,增强像素抗饱和能力,同时消除了图像滞后与弱光下的非线性.

关 键 词:CMOS图像传感器 硬复位电路  动态范围 抗饱和 图像滞后  非线性

分 类 号:TN43]

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同被引文献:

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