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电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室 收藏

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研究主题:集成电路    总剂量效应    可靠性    芯片设计    X射线    

研究学科:电子信息类    自动化类    

被引量:160H指数:7WOS: 1 EI: 2 北大核心: 13 CSCD: 14

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