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沈阳市光明电工仪器厂 收藏

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研究主题：IDDQ测试    DDQ    CMOS集成电路    可靠性    I    

研究学科：电子信息类    

被引量：1H指数：1

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浅谈CMOS集成电路的I_(DDQ)测试
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《微处理机》中国电子科技集团公司第四十七研究所;辽宁公安司法管理干部学院;沈阳光明电工仪器厂 张磊 王忆 张浩  出版年：2007
介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法,CMOS IC本质上是电流可测试的,IDDQ测试可有效地提高产品质量,降低芯片生产价格,并且它对失效响应分析(FEA)是非常有用的。
关键词：IDDQ测试 缺陷  故障  可靠性
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