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浅谈CMOS集成电路的I_(DDQ)测试
Shallow to Talk About I_(DDQ) of CMOS Integrated Circuit Test
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032 [2]辽宁公安司法管理干部学院,沈阳110031 [3]沈阳光明电工仪器厂,沈阳110041
年 份：2007
卷 号：28
期 号：4
起止页码：18-19
语 种：中文
收录情况：ZGKJHX、普通刊
摘 要：介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法,CMOS IC本质上是电流可测试的,IDDQ测试可有效地提高产品质量,降低芯片生产价格,并且它对失效响应分析(FEA)是非常有用的。
关 键 词：IDDQ测试 缺陷 故障 可靠性
分 类 号：TN4]
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