登录    注册    忘记密码

白璐 收藏

导出分析报告

研究主题:模拟集成电路    可靠性    A/D转换器    老化过程    端口    

研究学科:电子信息类    电气类    

被引量:9H指数:2

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心