登录    注册    忘记密码

章红芳 收藏

导出分析报告

研究主题:SOI_LDMOS    抗ESD    芯片面积    系统可靠性    电力电子系统    

研究学科:电气类    

被引量:0H指数:0

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心