吕长志 
吕长志 研究员 中国电子学会高级会员。1974年毕业于北京工业大学无线电系半导体物理与器件专业并留校任教,1991年在北京工业大学在职研究生毕业。因本人在科研方面的突出成... 详细>>
研究主题:可靠性 晶体管 加速寿命试验 ALGAN/GAN_HEMT IGBT
研究学科:电子信息类 电气类 自动化类 航空航天类 经济学类
被引量:301H指数:11
吕长志 研究员 中国电子学会高级会员。1974年毕业于北京工业大学无线电系半导体物理与器件专业并留校任教,1991年在北京工业大学在职研究生毕业。因本人在科研方面的突出成绩,于1998年获中华人民共和国国务院特殊津贴奖励。1996―2000年作为访问学者分别在美国伊利诺依大学(UIUC)和弗吉尼亚州立大学(VCU)从事氮化镓(GaN)基器件的研究,获得了当时世界领先的AlGaN/GaN MODFET(调制掺杂场效应晶体管)、GaN P-I-N 紫外光探测器科研成果,并发表了相应的论文。因本人在出国留学期间发表的高水平科研论文、在此期间取得的科研成果及所创造的经济效益,于2005年获第二届北京市留学人员创业奖。