登录    注册    忘记密码

西安工业大学光电工程学院测控技术与仪器系 收藏

导出分析报告

研究主题:莫尔条纹    TALBOT效应    焦距测量    透镜焦距    图像处理    

研究学科:自动化类    电子信息类    机械类    

被引量:17H指数:3WOS: 2 EI: 2 北大核心: 4 CSCD: 4

-

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一机构
结果分析中...
排序方式:

4 条 记 录,以下是 1-4

基于Talbot-Moiré法测量透镜焦距的莫尔条纹的图像处理 ( EI收录)
1
《光子学报》中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院研究生院;西安工业大学光电工程学院测控技术与仪器系 吴玲玲 吴国俊 仓玉萍 陈良益  出版年:2010
中国科学院"西部之光"人才培养计划"西部博士资助项目"资助
利用Ronchi光栅的Talbot效应和Moiré条纹测量了长焦透镜焦距,并根据焦距与莫尔条纹斜率之间的定量关系可求得透镜焦距.为获得条纹斜率,用CCD采集莫尔条纹图像后,利用数学形态学滤波方法进行图像滤波平滑等预处理,...
关键词:图像处理 焦距测量 TALBOT效应 莫尔条纹
基于Talbot-Moiré法的长焦透镜焦距测量的极限精度分析
2
《应用光学》西安工业大学光电工程学院测控技术与仪器系;西安应用光学研究所 吴玲玲 王星 陈靖 武继安 陈靖  出版年:2011
陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室开放基金资助(ZSKJ200903)
长焦距测量的Talbot-Moiré法是研究热点,目前很多方法虽然都是基于Talbot现象和Moiré技术,但基本原理和实验方案各不相同,因此焦距计算公式也不相同。基于透镜位相变换作用,利用Talbot效应和Moiré条...
关键词:焦距测量 TALBOT效应 莫尔条纹 精度  
基于Talbot-Moiré法测量透镜焦距的CCD亚像素标定技术 ( EI收录)
3
《光子学报》中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院研究生院;西安工业大学光电工程学院测控技术与仪器系 吴玲玲 吴国俊 仓玉萍 陈良益  出版年:2010
中科院"西部之光"人才培养计划"西部博士资助项目"资助
利用Ronchi光栅的Talbot效应和Moiré条纹测量长焦透镜焦距,根据焦距与莫尔条纹斜率之间的定量关系可求得透镜焦距.分别采用Canny算子和形态学方法对光栅的栅线中心进行像素级定位,再用高斯曲线拟合对其进行亚像素...
关键词:焦距测量 TALBOT效应 莫尔条纹 亚像素 标定  
基于图像处理的莫尔条纹测量的CCD亚像素标定
4
《应用光学》西安工业大学光电工程学院测控技术与仪器系;西安应用光学研究所 吴玲玲 王星 陈靖 武继安 张维光  出版年:2011
陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室开放基金资助(ZSKJ200903)
Talbot-Moiré技术是目前长焦距测量研究的热点。利用Talbot-Moiré技术测量长焦距时,很多都需要测量莫尔条纹的宽度或斜率,而CCD的标定精度直接影响测量精度,因此需要对CCD精确标定。文中提出采用光栅作为...
关键词:图像处理 莫尔条纹 亚像素 标定  
已选条目 检索报告 聚类工具

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心