会议论文详细信息
基于IEEE STD 1149.7的TAPC及其在SOC测试的应用
文献类型：会议
作者单位：桂林电子科技大学电子工程与自动化学院CAT研究室541005
会议文献：第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会论文集
会议名称：第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会
会议日期：2011年8月1日
会议地点：贵阳
主办单位：中国计算机自动测量与控制技术协会
语 种：中文
摘 要：随着微电子技术进一步发展和SOC设计复杂性的提高，SOC测试逐渐成为瓶颈;针对SOC测试的现状和IEEE STD1149．1的不足，本文利用IEEE STD1149．7的最新功能，通过设计一个芯片级的TAPC接口，在兼容IEEE STD1149．1的同时，实现对芯片内多个TAP的控制，从而对串行拓扑和星型拓扑的IEEE STD1149．7封装的IP核实现有效测试。
关 键 词：IEEE STD1149．7 TAPC SOC测试 IEEE STD1149．1
分 类 号：TN9] [计算机类] TP3
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
