期刊文章详细信息
集成电路测试相关标准研究与探讨
A Discussion on IEEE Standards Concerning IC Test
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]湖南怀化学院物理系应用物理教研室,湖南怀化418008
基 金：国家部委资助项目(41323020109)
年 份：2004
卷 号：34
期 号：3
起止页码：246-249
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要： 重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题及相关标准,阐述了各标准的作用,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性。
关 键 词：集成电路 边界扫描 混合信号电路 片上系统 可测性设计
分 类 号：TN407]
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