文献类型：期刊文章

作　　者：张伟[1] 李兆麟[1] 张闯[2] 汪东升[1]

机构地区：[1]清华大学计算机系高性能研究所,北京100084 [2]吉林省石油集团公司试油测试公司,吉林138000

出　　处：《计算机工程与应用》

基　　金：国家863高技术研究发展计划重点项目资助(编号:2002AA1Z030);国家自然科学基金资助(编号:60106004)

年　　份：2004

卷　　号：40

期　　号：12

起止页码：1-4

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：文章提出了一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上的可调试系统。该系统在JTAG工业标准的基础上,能够以较少的硬件开销支持指令/数据断点设置、单步执行、寄存器内容查看和设置、内存内容查看和设置、在线编程以及微处理器运行现场设置等调试功能。文章首先介绍了嵌入式微处理器可调试设计的原理,其次介绍了嵌入式微处理器的调试系统设计,最后给出调试实例分析。

关 键 词：嵌入式微处理器 片上可调试系统  JTAG

分 类 号：TP332]