文献类型：期刊文章

作　　者：周慧鑫[1] 殷世民[1] 刘上乾[1] 赖睿[1]

机构地区：[1]西安电子科技大学技术物理学院,西安710071

出　　处：《光子学报》

基　　金：国防科技预研基金资助项目 (5 1 4 0 2 0 30 2 0 1DZ0 1 0 2 )

年　　份：2004

卷　　号：33

期　　号：5

起止页码：598-600

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：在分析盲元响应特性的基础上 ,利用红外焦平面阵列对双参考辐射源的响应数据和相邻像元成像数据的相关性 ,提出了一种基于双参考辐射源的盲元现场自动检测和插值补偿算法 ,实现了盲元的自动检测和校正 实验结果表明 :该方法具有对盲元查找速度快、定位准确率高。

关 键 词：红外焦平面阵列 盲元 红外成像 自动检测  插值补偿  

分 类 号：TN214]