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期刊文章详细信息

铝诱导非晶硅薄膜的场致低温快速晶化及其结构表征  ( EI收录)  

Aluminum-induced rapid crystallization of a-Si films at low temperatures in an electric field and microstructure analyses of the crystallized films

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈一匡[1] 林揆训[1] 罗志[1] 梁锐生[1] 周甫方[1]

机构地区:[1]汕头大学物理系,汕头515063

出  处:《物理学报》

基  金:国家重点基础研究发展规划项目 (批准号 :G2 0 0 0 0 2 82 0 8)资助的课题~~

年  份:2004

卷  号:53

期  号:2

起止页码:582-586

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2004198157069)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000189048100047)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘  要:铝诱导非晶硅薄膜晶化可以降低退火温度、缩短退火时间 ,是制备多晶硅薄膜的一种重要方法 .在此基础上 ,通过在退火过程中加入电场加速了界面处硅、铝原子间的互扩散 ,实现了非晶硅薄膜的快速低温晶化 .实验结果表明 ,外加电场 ,退火温度为 4 0 0℃ ,退火时间为 6 0min时 ,薄膜的晶化率大于 6 0 % ;退火温度为 4 5 0℃退火时间为30min时 ,薄膜已经呈现明显的晶化现象 ;退火温度为 5 0 0℃退火时间为 15min时 ,薄膜的x射线多晶峰强度与非晶峰强度之比为未加电场的 3—

关 键 词:非晶硅薄膜 多晶硅薄膜 铝诱导  晶体结构 退火温度 退火时间 外加电场

分 类 号:O484.4]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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