期刊文章详细信息
铝诱导非晶硅薄膜的场致低温快速晶化及其结构表征 ( EI收录)
Aluminum-induced rapid crystallization of a-Si films at low temperatures in an electric field and microstructure analyses of the crystallized films
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]汕头大学物理系,汕头515063
基 金:国家重点基础研究发展规划项目 (批准号 :G2 0 0 0 0 2 82 0 8)资助的课题~~
年 份:2004
卷 号:53
期 号:2
起止页码:582-586
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2004198157069)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000189048100047)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊
摘 要:铝诱导非晶硅薄膜晶化可以降低退火温度、缩短退火时间 ,是制备多晶硅薄膜的一种重要方法 .在此基础上 ,通过在退火过程中加入电场加速了界面处硅、铝原子间的互扩散 ,实现了非晶硅薄膜的快速低温晶化 .实验结果表明 ,外加电场 ,退火温度为 4 0 0℃ ,退火时间为 6 0min时 ,薄膜的晶化率大于 6 0 % ;退火温度为 4 5 0℃退火时间为30min时 ,薄膜已经呈现明显的晶化现象 ;退火温度为 5 0 0℃退火时间为 15min时 ,薄膜的x射线多晶峰强度与非晶峰强度之比为未加电场的 3—
关 键 词:非晶硅薄膜 多晶硅薄膜 铝诱导 晶体结构 退火温度 退火时间 外加电场
分 类 号:O484.4]
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