文献类型：期刊文章

作　　者：张平[1] 王乐夫[2]

机构地区：[1]广州大学环境科学系,广东广州510400 [2]华南理工大学化学工程系,广东广州510640

出　　处：《分析测试学报》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(20076017) ;广东省自然科学基金资助项目(000428) ;广东省科技攻关计划(2KB06601S)

年　　份：2004

卷　　号：23

期　　号：1

起止页码：39-41

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、RSC、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：将程序升温 -漫反射红外光谱用于表征磷酸硅铝分子筛SAPO_34表面酸性质 ;结果表明 ,SAPO_34分子筛中的桥联羟基Si—OH—Al具有较强的热稳定性 ;结合NH3 探针考察表明 ,SAPO_34分子筛具有B酸和L酸两种酸中心 ,其中B酸较强 ,是SAPO_34酸性的主要部分 ,而L酸中心较弱。

关 键 词：磷酸硅铝分子筛 SAPO-34分子筛 羟基 酸性 程序升温-漫反射红外光谱  原位表征技术  B酸中心  L酸中心  

分 类 号：O643.36]