文献类型：期刊文章

作　　者：李立健[1] 赵瑞莲[2]

机构地区：[1]中国科学院自动化研究所国家专用集成电路工程中心,北京100080 [2]北京化工大学计算机科学与技术系,北京100029

出　　处：《计算机辅助设计与图形学学报》

基　　金：国家自然科学基金 ( 60 173 0 42 )资助

年　　份：2003

卷　　号：15

期　　号：6

起止页码：662-666

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出一个基于重复播种的新颖的BIST方案 ,该方案使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 ;通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 实验表明 ,该方案需要外加硬件少 ,测试施加时间较短 ,故障覆盖率高 ,近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率 在扼要回顾常见的确定性BIST方案的基础上 ,着重介绍了文中的压缩存储硬件的方法。

关 键 词：存储压缩  故障覆盖率  寄存器 集成电路 电路测试 多种子内建自测试  

分 类 号：TN407]