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期刊文章详细信息

100nm分辨率的移相掩模技术    

Phase-shifting Mask of 100 nm Resolution

  

文献类型:期刊文章

作  者:陆晶[1] 陈宝钦[1] 刘明[1] 王云翔[1] 龙世兵[1] 李泠[1]

机构地区:[1]中国科学院微电子所纳米加工与新器件集成技术实验室,北京100029

出  处:《微细加工技术》

基  金:国家自然基金资助项目(60376020)

年  份:2003

期  号:4

起止页码:27-32

语  种:中文

收录情况:SCOPUS、普通刊

摘  要:介绍了移相掩模技术的基本原理,对几种主要的移相掩模技术进行了比较,指出了各种移相方式的特点和应用局限性,并针对100nm分辨率的技术节点,阐述了各种移相方式在应用中应该解决的问题。

关 键 词:分辨率 移相掩模 二元掩模  光刻 交替式 衰减式  

分 类 号:TN305.7]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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