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期刊文章详细信息

加场极板LDMOS的击穿电压的分析    

Analysis of LDMOS breakdown voltage after using field plate

  

文献类型:期刊文章

作  者:吴秀龙[1] 孟坚[1] 陈军宁[1] 柯导明[1] 时龙兴[2] 孙伟锋[2]

机构地区:[1]安徽大学电子工程与信息科学学院,安徽合肥230039 [2]东南大学工程技术中心,江苏南京210096

出  处:《安徽大学学报(自然科学版)》

基  金:国家863计划资助项目:高压驱动集成技术的研究(2002AA1Z1550);安徽省自然科学基金资助项目(10142104)

年  份:2004

卷  号:28

期  号:1

起止页码:49-52

语  种:中文

收录情况:AJ、CAS、JST、MR、RCCSE、ZGKJHX、ZMATH、普通刊

摘  要:在LDMOS中加入电场控制极板是一种有效的提高其击穿电压的方法,本文分析了PDP选址驱动芯片的LDMOS场极板对其漏击穿电压的影响,指出了场极板的分压作用和场极板边缘效应对击穿电压的影响,给出击穿电压的计算公式,计算结果与实验能够吻合,说明了给出的公式是正确的。

关 键 词:场极板 LDMOS 击穿电压 PDP选址驱动芯片  晶体管

分 类 号:TN386.1]

参考文献:

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同被引文献:

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