文献类型：期刊文章

作　　者：梁华国[1] 蒋翠云[2]

机构地区：[1]合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009 [2]合肥工业大学信息与计算科学系,合肥230009

出　　处：《计算机研究与发展》

基　　金：德国国家基金项目 (Wu2 45 /2 4)

年　　份：2004

卷　　号：41

期　　号：1

起止页码：214-220

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出了一种基于扫描混合模式的内建自测试的新颖结构 为了减少确定测试模式的存储需求 ,它依赖一个双重种子压缩方案 ,采用编码折叠计数器种子作为一个LFSR种子 ,压缩确定测试立方体的个数以及它的宽度 这种建议的内建自测试结构是完全相容于标准的扫描设计 ,简单而具有柔性 ,并且多个逻辑芯核可以共享 实验结果表明 ,这种建议的方案比先前所公布方法需要更少的测试数据存储 。

关 键 词：内建自测试 确定的内建自测试  存储与生成方案  测试数据压缩

分 类 号：TP302]