期刊文章详细信息
高功率微波武器效应及防护
High Power Microwwave Weapons Effect and Hardening
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]上海航天电子技术研究所,上海201109
年 份：2014
卷 号：30
期 号：S2
起止页码：147-150
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2011、CSCD、CSCD2013_2014、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：高功率微波(HPM)武器产生的强电磁脉冲环境,已对武器装备构成严重威胁,其破坏效果远远超过一般电子战设备。因此,研究武器装备的电磁环境效应和防护对策,已成为高新技术武器装备发展中的重要课题。本文针对HPM对军用电子设备的严重威胁,给出了HPM典型特征参数,分析了其对电子设备的损伤机理,包括HPM对电子设备的"前门"耦合效应、"后门"耦合效应。最后对电子设备的HPM防护给出了几种防护措施。
关 键 词：高功率微波 效应 防护
分 类 号：E9399]
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