文献类型：期刊文章

作　　者：张蓉竹[1] 蔡邦维[1] 杨春林[1] 许乔[2] 顾元元[2]

机构地区：[1]四川大学光电系,成都610064 [2]成都精密光学工程研究中心,成都610041

出　　处：《强激光与粒子束》

基　　金：国家 8 63惯性约束聚变领域资助课题 !(863 -4 16-2 )

年　　份：2000

卷　　号：12

期　　号：6

起止页码：661-664

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2001386650952)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：采用功率谱密度 PSD(Power Spectral Density)作为大尺寸光学元件表面质量的评价标准 ,对其定义及计算普适公式及方法进行了详细的分析推导 ,给出了被测样品的计算结果 ,并就在不同条件下计算平均 PSD的方法和结果进行了分析比较和讨论。

关 键 词：大尺寸光学元件  功率谱密度 傅立叶变换 固体激光器 惯性约束聚变

分 类 号：TL632.1]