文献类型：期刊文章

作　　者：李青会[1] 张斌[2] 承焕生[2] 干福熹[1]

机构地区：[1]中国科学院上海光学精密机械研究所,上海201800 [2]复旦大学现代物理研究所,上海200433

出　　处：《硅酸盐学报》

基　　金：国家自然科学基金(50272071);中国科学院知识创新工程

年　　份：2003

卷　　号：31

期　　号：10

起止页码：950-954

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：化学成分分析是中国古玻璃研究中一个重要方面,可以为研究中国古玻璃的起源和技术发展等提供科学的依据,有必要发展新的测试方法。质子激发X荧光(proton induced X-ray emission,PIXE)技术是一种高灵敏度、非破坏性、多元素定量测定的分析方法。概要介绍了PIXE分析的原理、特点,相关的设备和分析过程,列举了外束PIXE技术应用于中国战国、西汉古玻璃样品分析的一些实例。PIXE分析技术在古玻璃样品特别是整形器皿的成分分析中具有广阔的应用前景。

关 键 词：质子激发X荧光  古玻璃 成分分析  

分 类 号：TL99] TQ17]