登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

微量Mg对高压电子铝箔腐蚀结构的影响  ( EI收录)  

Influence of trace Mg on corrosion structure of high voltage aluminum foil

  

文献类型:期刊文章

作  者:毛卫民[1] 杨宏[1] 余永宁[1] 冯惠平[1] 徐进[1]

机构地区:[1]北京科技大学材料学系,北京100083

出  处:《中国有色金属学报》

基  金:北京市自然科学基金资助项目 (2 0 0 2 0 14 ) ;北京市科委科技合同资助项目 (95 5 0 3 10 40 0 )

年  份:2003

卷  号:13

期  号:5

起止页码:1057-1060

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:采用立方织构定量检测以及扫描电子显微镜下观察腐蚀结构等手段 ,对比了不同微量Mg元素含量的高压电解电容器阳极铝箔在织构和腐蚀结构上的差别 ,研究了Mg含量对高压电解电容器阳极铝箔比电容的影响。分析表明 :Mg含量从 0 .0 0 0 1%提高到 0 .0 0 14 %时 ,Mg会更多富集于铝箔表面 ,促使腐蚀形成的氧化膜中出现含Mg的复合氧化物微小颗粒 ,进而引起腐蚀隧道的侧向发展 ;频繁的侧向发展可导致表层腐蚀组织剥落 ,进而使铝箔在 5 0 0V的比电容从 7.3× 10 -3 F/m2 降低到 4 .3× 10 -3 F/m2 。

关 键 词:电解电容器 铝箔 腐蚀  扫描电子显微镜 立方织构 比电容

分 类 号:TM535.1] TG146.21[材料类]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心