期刊文章详细信息
高密度电阻率法二维成像技术及其在工程勘查中的应用
Application of High-density Resistivity Method with Two-dimensional Imagery to Engineering Investigation
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]东华理工学院探测与信息技术系,江西抚州344000
基 金：华东地质学院院长基金项目资助 (2 0 0 0YZJJ0 0 8)
年 份：2003
卷 号：31
期 号：5
起止页码：62-64
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2000、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：利用二维电阻率成像测量技术可以重构地下介质的精确结构。高密度电阻率法可以看作是一种特殊、方便、实用的层析成像测量方法 ,由此获得的分辨率比常规电阻率法所进行的各种解释都高得多。本文就高密度电率法成像技术的理论与方法进行了粗浅探讨 ,并以几个应用实例说明了该技术的有效性和实用性。
关 键 词：工程勘查 高密度电阻率法 电阻率成像 阵列电探系统
分 类 号：P631.322]
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